品牌:日立HITACHI
加速电压:5 kV、10 kV、15 kV
图像信号:背散射电子 二次电子 合成（背散射电子＋二次电子）
最大样品尺寸:80 mm（直径）50 mm（厚度）
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一、产品介绍简单来说，日立扫描电镜是一种利用高能电子束来扫描样品表面，从而获得极高分辨率微观形貌信息的精密分析仪器。 它被誉为科学家和工程师观察微观世界的“眼睛”，其核心功能远超普通光学显微镜。
二、产品特点
1、简单、快速
为满足客户的“想要不进行样品前处理，直接启动设备，快速且简单获取目标样品数据”需求，TM4000系列进行了全面改进。可观察最大直径为80mm，厚度为50mm的样品。设备内置光学相机（选配），可轻松寻找目标样品。从装样到获取图像仅需3分钟左右。优化了原来的形状观察、元素分析(选配项)到报告制作的工作流程。
2、性能优越，可灵活观察与分析
TM4000系列可观察两种图像，反映样品组分衬度的背散射电子像，反映样品表面形貌的二次电子像。原来只能在高真空环境下观察二次电子像，而TM4000Plus实现了低真空环境下观察二次电子像。
三、应用案例某跨国SMT贴装客户报告，其在业内采购的所有ENIG工艺PCB的PTH孔，在回流焊接后均出现测试孔孔环腐蚀发黑的现象，导致探针测试失效并引发全面停产，损失严重。该缺陷不仅削弱了探针的接触可靠性，还会因PTH孔裂纹腐蚀铜层，削弱PCB的耐蚀性，并对产品可焊性构成显著失效隐患。
扫描电子显微镜（SEM）作为关键的大型电子显微分析设备，在失效分析中极具价值。现代SEM性能卓越，能将任何微观结构或表面特征放大数十万倍进行观测与分析。
针对PCB及焊点失效分析，SEM主要用于剖析失效机理，包括：焊盘表面形貌观测、焊点金相组织检查、金属间化合物厚度测量、镀层可焊性评估以及锡须生长分析等。
相较于光学显微镜，SEM具有超大的图像景深，是分析金相组织、显微断口及锡须等三维形貌样品不可或缺的手段。