非全新牛津镀层测厚仪CMI900系列销售

 

CMI900是一台高精度、快速、无损、微聚焦能量射散型X射线荧光镀层厚度和元素分析系统，可分析的镀层元素为元素周期表上22TI到92U,牛津仪器基于WINDOWS XP操作系统开发了Smartlink? FP测量软件和LE报告生成器）

 

CMI900用于镀层厚度测量以及分析镀层金属成分、镀液，是一款专用镀层测厚仪、（印制线路板之金/镍、锡/铅、锡/银等）的非破坏性精确测量及材料成分分析。

 

CMI900镀层测厚仪用途：

 

1.多镀层金属厚度测

 

2.合金鉴定及化学分析

 

3.电镀液分析

 

4.金成色分析

 

 

应用X射线荧光原理测量，精确度高且不破坏样品。

 

NIST（美国国家标准和技术学会）认可的标准片。

 

CMI900系列膜厚测试仪能够测量多几种形状，各种尺寸的样品；并且测量点*小可达0.025×0.051毫米。

 

CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选择用，分别为：标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；扩展型标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、Z轴自动控制；程控样品台，XYZ轴自动控制；超宽程控样品台，XYZ轴自动控制。

 

 

测量元素：22（TI）-92（U）

 

测量层数：5层（4层镀层+基材层）

 

X射线管功率：50W

 

X射线管靶材：钨

 

可安装准直器数量：4个

 

外形尺寸：610*1037*375mm（自动标准台）

 

非破坏性镀层测厚仪

 

深圳市谱赛斯科技有限公司提供CMI900镀层测厚仪,CMI700涂层镀层测厚仪,CMI500铜厚测厚仪,CMI165等涂镀层测厚仪,元素分析仪,无损检测测厚仪.是中国大陆的牛津仪器一级代理,专业销售维修:CMI900 X-Strata920 FT系列等各种型号涂镀层测厚仪,拥有一支经验丰富的服务团队,为客户提供及时,优质的售前/售后服务和技术支持。