日立X-Strata920全自动镀层膜厚仪，测量准，镀层测厚

   日立分析仪器XRF镀层膜厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至最少。随着X-Strata功能的扩展，用户可以通过该仪器进行更多工作。

   这一款新型X-Strata膜厚仪意味着可选择高分辨率硅漂移探测器（SDD）或正比计数器定制仪器，以优化其性能。此外，它现在拥有四个腔室和基座配置，可处理各种形状和尺寸的样品，包括汽车行业中的复杂几何形状。

   对于复杂的镀层结构，SDD可以提供优于正比计数器的优势，因为它更易分析具有类似XRF特征的元素，例如镍和铜。这扩大了可以用于分析的元素范围，包括磷 — 对于化学镀镍分析非常关键，并且可以更精确地测量较薄镀层，例如符合IPC-4552A的纳米范围的金。

   日立分析仪器产品业务发展经理Matt KREINER表示：“X-Strata920以及日立分析仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来前景、可靠性和易用性而闻名。SDD的加入以及多种配置选择能提高我们客户的分析能力和灵活性，以测量大量零件的复杂镀层。我们保留了高度直观的Smartlink软件，因此任何操作员（无论经验水平如何）都能够快速学会使用仪器并获得准确可靠的结果。我们的镀层产品，包括高级FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式分析的CMI系列，40多年来在镀层测量领域一直深受信赖，我们很高兴能够提供这些改进成果。”

深圳市谱赛斯科技有限公司成立于2014年，公司坐落于深圳工业重沙井，公司是从事精密仪器研发、生产、制造和进口仪器代理销售及技术支持服务为一体的科技企业，公司长期以来和日本日立保持着友好合作伙伴关系，我们一直是日立分析仪器正式授权的销售、服务独家代理。
       谱赛斯集团是由高素质的设计研发、生产制造、售后服务的精英及业务骨干和工程技术人才组成的团队，80%以上人员从事仪器仪表行业超过十年。公司本着“不断创新、服务至上，以客户利益为导向”的经营理念，敬业、守信、专业、高效的企业精神近年来为全国各地的连接器、PCB、LED、SMD、MLCC、电镀行业、半导体、端子、紧固件汽车、五金等制造厂商及高校、科研机构、质检机构等广大客户提供优质、快捷的测量方案和技术支持，并获得业界无数好评。

1. 测量能力

• 镀层结构：最多 4 层镀层 + 1 层基材，共 5 层同时测定
• 元素范围：Ti（22）–U（92），最多 25 种元素共存校正
• 厚度下限：≈ 0.03 µm（30 nm，Au/Ni 典型值）
• 测量时间：≈ 10 s 出结果，满足产线节拍
• 标准符合：ISO 3497、ASTM B568、IPC-4552A/4556 等

   

2. 硬件配置

• X 射线管：50 kV/1 mA，W 靶微聚焦，空冷，Be 窗
• 探测器：标配正比计数器（PPC），可选高分辨率 SDD（Al–U 全元素）
• 准直器：最多 6 孔自动交换，圆孔 Ø0.1–0.5 mm，矩形最小 0.013 × 0.254 mm，可测微小焊盘或引线
• 滤光片：3 位程控二次滤光片，有效消除 Cu/Ni 等邻近元素谱线重叠
• 样品观察：30× 光学放大 + 激光自动对焦，Z 轴行程 43 mm，可实时拍照记录测点